植被指数自动测量仪

仪器基本信息
仪器类型：
仪器名称：全天候自动荧光（反射率）测量系统
技术指标：
1 光谱系统
  光谱系统性能：具有稳定的信噪比，良好的光谱重现性，高光谱分辨率，系统性能稳定。
*1.1光谱仪（荧光）(可以根据用户需求更改配置，满足用户更好的使用要求)
    1.1.1 光谱仪范围：640-800 nm（25um狭缝）
    1.1.2 光谱分辨率:0.38 nm
    1.1.3 光谱采样间隔:0.15 nm
1.1.4 信噪比:1000:1
1.1.4 CCD 制式：1024*58
    1.1.5像素面阵型CCD
    1.1.6最高灵敏度200*103
    1.1.7 暗噪音：≤ 3RMS
1.1.8光谱响应：780 nm处量子效率最高（70 %）, 680 nm处量子效率最高50 %
*1.2光谱仪（植被指数）（可以根据用户需求更改配置，满足用户更好的使用要求）
1.2.1光谱仪范围：200-1100 nm（25狭缝）
1.2.2光谱分辨率:1.3nm，光谱采样间隔0.15 nm，信噪比250:1
1.2.3 CCD 制式：2048像素线阵型CCD；
1.2.4暗噪音：低于12RMS
1.2.5光谱响应：350 nm处量子效率最高（70 %）, 680 nm处量子效率最高35 %
2  数据采集头
数据采集部分功能：自动优化积分时间，保证观测数据信噪比；余弦探头具有防尘、防雨功能；保护余弦校正器不受雨水及灰尘的侵袭，尽可能的保护设备的采集数据安全可靠。
  2.1 高通量光纤数据采集头
     2.1.1长度：10米
  *2.2 采集头防雨器
     2.3.1 遇雨水自动遮挡采集头。 
     2.3.2 防尘盖
     2.3.3 余弦探头：30S/次
3  恒温系统
恒温系统功能：实时监测功能:7*24小时全天候全自动测量目标物，实现系统温度、湿度的状态信息监控。
   3.1 恒温箱
    3.1.1 环境温度：20℃-50℃
    3.1.2恒定温度：20℃-40℃（±1℃）
    3.1.3温度可自由设定
    3.1.4半导体TEC制冷
    3.1.5实时监控并存储恒温箱的温、湿度值
    3.1.6实时监控并存储机箱内部的环境温度
    3.1.7 异常预警：当温度异常时，将自动采取应急措施。
    3.1.8 预警处理：报警——关闭光谱仪——关闭系统
4  数据处理
 *4.1 数据处理系统硬件
       4.1.1  Intel处理器
       4.1.2  NM70高速芯片组
       4.1.3  面板类型：工控规屏TFT
       4.1.4  背光类型：LED
       4.1.5  亮度：400cd/m2
       4.1.6  线性误差＜1.5%
     4.2数据处理算法
       4.2.1  实时计算SIF
       4.2.2  同时具有二种算法：3FLD、SFM
       *4.2.3  同时显示原始光谱图，反射率，地物，入照，实时荧光值图谱等植被参数
      4.3  数据处理功能
  4.3.1 辐射校正模块
  4.3.2  光谱校正模块
4.3.3  暗电流校正功能
  4.3.4  实时自动优化积分时间功能
  4.3.5  测量起止时间、测量间隔时间可调
  4.3.6   根据太阳高度角自动启动、停止测量
4.4  数据处理其他功能
  4.4.1  数据自动存储
 4.4.2  远程实时数据浏览
 4.4.3  数据异常监测、报警
  4.4.4  多张光谱图同时显示，可以同时显示原始光谱，反射率，荧光值
  4.4.5用户可以根据现场情况修改软件参数（积分时间，测试时间等）
6  提供定制化服务
可根据后期用户实验要求增加仪器功能或改变光谱仪配置，根据现场情况修改软件参数，一个月内修改完毕到达用户现场，后期提供数据分析技术支持。

荧光光谱日变化

玉米植被光谱（入照-地物-反射率）